Almanya, İsviçre ve Japonya'dan uluslararası bir araştırma ekibi, yakın zamanda yapılan bir çalışmada, tek bir yansıma bölgesi plakasının (RZP) hem yumuşak X-ışını görüntülemeyi hem de rezonans elastik olmayan X-ışını saçılımı (RIXS) haritalamasını gerçekleştirebildiğini gösterdi. Yaklaşım, hem yapıların bir malzemede nerede bulunduğunu hem de elektronik özelliklerinin nasıl değiştiğini belirlemesi gereken gelecekteki araçları basitleştirebilir.
Kaynak: phys.org. Bu haber orijinal dilinden Türkçeye çevrilmiştir. Haberin tamamı için orijinal kaynağa gidebilirsiniz.
